芯片的老化监测系统

授权

摘要

本实用新型公开了一种芯片的老化监测系统，该芯片的老化监测系统包括供电系统、控制器、数据传输系统、数据采集系统、预设串口模块以及上位机；供电系统的第一输出端与数据传输系统的电源端连接，供电系统的第二输出端与控制器的电源端连接，供电系统的第三输出端与数据采集系统的电源端连接；数据采集系统的第一数据传输端与控制器的第一端连接，数据采集系统的多个第二数据传输端与多个待测试芯片一一对应连接；控制器的第二端与数据传输系统的第一端连接，数据传输系统的第二端与上位机连接。本实用新型的技术方案，能够提高芯片的老化测试效率。

基本信息

专利标题：

芯片的老化监测系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921675062.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-08

授权号：

CN211043581U

授权日：

2020-07-17

发明人：

陈雪雷邹良云张光力谭子诚

申请人：

深南电路股份有限公司

申请人地址：

广东省深圳市南山区侨城东路99号

代理机构：

深圳市世纪恒程知识产权代理事务所

代理人：

魏润洁

优先权：

CN201921675062.7

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R31/01 G01N21/956