老化监测电路、模组、方法及芯片
实质审查的生效
摘要
本发明实施例提供了一种老化监测电路、模组、方法及芯片，其中，所述老化监测电路包括使能模块和监测模块，所述使能模块用于根据被测电路的工作状态使能所述监测模块，所述监测模块用于映射被测电路的老化程度，并在被测电路老化至预设程度时，输出标识信号。可以看出，通过使能模块根据被测电路的工作状态使能所述监测模块，从而使得监测模块随着被测电路的工作状态使能，并利用监测模块映射被测电路的老化程度，在被测电路老化至预设程度时，输出标识信号，从而监测被测电路的老化程度，并在被测电路老化至预设程度时进行标识，指示被测电路已老化至预设程度。
基本信息
专利标题 ：
老化监测电路、模组、方法及芯片
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114487790A
申请号 ：
CN202210352585.8
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-04-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
钱雅倩邝仁德黄瑞锋
申请人 ：
海光信息技术股份有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
代理机构 ：
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
王立娜
优先权 ：
CN202210352585.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220406
申请日 : 20220406
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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