射极耦合逻辑电路的老化方法和装置
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
为能够缩短进行老化所需的时间而提出的ＥＣＬ电路老化方法和装置。其特点是，可用于将输入信号与作为电路阈值的基准电位进行比较而根据比较结果输出对应输出信号的ＥＣＬ电路，为进行在ＥＣＬ电路电路正常操作时与进行老化时的基准电位Ｖｒｅｆ的电平转换而设置了一切换装置。
基本信息
专利标题 ：
射极耦合逻辑电路的老化方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1101168A
申请号 ：
CN94104266.9
公开（公告）日 ：
1995-04-05
申请日 ：
1994-03-15
授权号 ：
CN1057610C
授权日 ：
2000-10-18
发明人 ：
黑田忠广野田诚
申请人 ：
株式会社东芝
申请人地址 ：
日本神奈川县
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
王岳
优先权 ：
CN94104266.9
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R31/28 H01L21/60
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2009-05-13 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2000-10-18 ：
授权
1995-04-05 ：
公开
1995-03-22 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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