本实用新型提供了一种用于芯片老化测试的芯片摆盘设备，其能解决现有芯片在老化测试前的摆盘效率底、老化测试后芯片撤盘的分检效率低、工人劳动强度大的问题。其包括具有芯片吸嘴组件和视觉检测组件的芯片升降送料装置通过三轴联动装置安装于机架平台的上方，机架平台上设置有沿纵向直线延伸的芯片托盘上下料装置，并在位于芯片托盘上下料装置的横向一侧设置有老化测试治具板定位承载装置，老化测试治具板定位承载装置的纵向前、后端分别设置有治具板上料装置、治具板下料装置，机架平台并位于治具板上料装置的纵向前侧、治具板下料装置的纵向后侧分别具有进料空腔、出料空腔，进料空腔内、出料空腔内分别可移动地放置有用于层叠承载老化测试治具的框架栏的板移载小车。