一种COC芯片老化测试设备

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

摘要

本实用新型公开一种COC芯片老化测试设备。该COC芯片老化测试设备(1000)包括多个测试单元(400)和测试架(500)；每个测试单元(400)均包括用于对COC芯片(205)进行限位的芯片限位组件(410)和用于安装测试探针(302)的探针安装组件(420)，探针安装组件(420)位于芯片限位组件(410)的正上方；测试架(500)包括芯片限位平台(510)和位于芯片限位平台(510)上方的探针安装平台(520)，各芯片限位组件(410)沿长度方向(L)排列设置在芯片限位平台(510)上，各探针安装组件(420)沿长度方向(L)排列设置在探针安装平台(520)上。根据本实用新型的COC芯片老化测试设备，能够可靠定位和加电，能方便快捷地进行上料操作。

基本信息

专利标题：

一种COC芯片老化测试设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920500787.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-04-12

授权号：

CN210072002U

授权日：

2020-02-14

发明人：

胡思强李连城周益平

申请人：

深圳市迅特通信技术有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区南头街道深南大道10128号南山软件园东塔楼805室

代理机构：

深圳卓正专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

万正平

优先权：

CN201920500787.6

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28

相关图片

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/28

•电路的测试，例如用信号故障寻测器

法律状态

2021-07-06 ：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

IPC(主分类) : G01R 31/28
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳市迅特通信技术有限公司
变更后 : 深圳市迅特通信技术股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市宝安区南头街道深南大道10128号南山软件园东塔楼805室
变更后 : 518000 广东省深圳市南山区桃源街道长源社区学苑大道1001号南山智园C3栋701、801

2021-07-06 ：

专利申请权、专利权的转移

专利权的转移IPC(主分类) : G01R 31/28
登记生效日 : 20210624
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 深圳市迅特通信技术股份有限公司
变更后权利人 : 深圳市迅特通信技术股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 518000 广东省深圳市南山区桃源街道长源社区学苑大道1001号南山智园C3栋701、801
变更后权利人 : 518000 广东省深圳市南山区桃源街道长源社区学苑大道1001号南山智园C3栋701、801
变更事项 : 专利权人
变更后权利人 : 江西迅特通信技术有限公司

2020-02-14 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

文件下载

1、

CN210072002U.PDF

PDF下载