本实用新型揭示了用于芯片老化测试设备的装卸料浮动辅助治具，包括具备升降位移的载座、及位于载座底部的用于与弹性卡合部相配合的配合座，载座上设有镂空部，配合座上设有导向通道，镂空部与导向通道形成供芯片穿过的芯片装卸料通道，配合座具备相对载座的垂直向浮动位移及水平偏向位移。本实用新型满足与测试座浮动对位需求，一方面能防止压接硬性碰撞，另一方面提供了纠偏导向，能起到芯片装卸料辅助导向作用，确保芯片位置度与测试座相匹配，避免出现对位偏差导致芯片及测试座损伤。整体设计简洁巧妙，易于实现垂直向浮动及水平向偏摆浮动，具备成本优势，适于推广应用。