全智能芯片老化测试分选设备
实质审查的生效
摘要

本发明公开了全智能芯片老化测试分选设备,包括试验箱,试验箱的一侧固定有水箱,水箱上固定有盖板,盖板上固定嵌入有抽水管,盖板上固定有水泵,水泵的端口与抽水口对接固定,盖板上固定嵌入有进水口,进水口上铰接有挡板,挡板上设置有气孔,试验箱的内壁上安装有立柱,立柱上固定有滑块,滑块上滑动设置有置物座。本发明通过外置的水箱可确保试验箱恒湿过程的水量供应,无需频繁的将试验箱的储水结构取出加水,通过浮球在水箱内水位较低时下降,使得两个铜块接触,从而让蜂鸣器响起,进行水量过低预警,避免试验箱出现无水空加湿的情况。

基本信息
专利标题 :
全智能芯片老化测试分选设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325334A
申请号 :
CN202111658595.6
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈冬兵
申请人 :
苏州欣华锐电子有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区双马街2号星华产业园16号楼北2楼
代理机构 :
苏州国诚专利代理有限公司
代理人 :
杨淑霞
优先权 :
CN202111658595.6
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01F23/60  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211230
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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