一种芯片测试分选装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试分选装置，包括机座，机座上设有第一分选区域、第二分选区域和测试装置；第一分选区域用于放置符合第一分选条件的芯片；第二分选区域用于放置符合第二分选条件的芯片；第一分选区域设有第一信号灯，第二分选区域设有第二信号灯；测试装置与第一信号灯和第二信号灯电连接，测试装置被配置为测试芯片，并确定芯片符合第一分选条件或第二分选条件，以控制第一信号灯或第二信号灯开启。本实用新型能够帮助测试人员将芯片按照其测试结果放入正确的位置，避免将不同测试结果的芯片混杂在一起。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试分选装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122873985.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-22
授权号 ：
CN216622588U
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
李双成张传益马海龙曾润达辜诗涛
申请人 ：
广东利扬芯片测试股份有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市万江街道莫屋新丰东二路2号
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
张艳美
优先权 ：
CN202122873985.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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