一种芯片老化测试系统

专利权的终止

摘要

本实用新型适用于芯片测试领域，提供了一种芯片老化测试系统，该系统包括微控制器，以及与该微控制器电连接的输入控制电路、电压源控制电路、信号检测电路以及存储器，以及与该电压源控制电路电连接的电压源电路。在本实用新型中，电压源控制电路在微控制器的控制下，控制电压源电路的电压的通和断，从而为芯片的老化测试提供了一使芯片在短时间内不断的经历上电和掉电过程的测试环境，信号检测电路检测该芯片老化测试数据，通过对该测试数据进行分析，即可得到芯片的老化性能，从而得到芯片的使用寿命。

基本信息

专利标题：

一种芯片老化测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720122403.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-08-22

授权号：

CN201096847Y

授权日：

2008-08-06

发明人：

黄林朱祥

申请人：

比亚迪股份有限公司

申请人地址：

518119广东省深圳市龙岗区葵涌镇延安路比亚迪工业园

代理机构：

深圳中一专利商标事务所

代理人：

张全文

优先权：

CN200720122403.9

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00 G01R31/28 G09G3/00 G02F1/13