一种SIP芯片的老化测试系统
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要
本申请公开了一种SIP芯片的老化测试系统，包括：测试载板、系统板和上位机，测试载板用于放置多个待测试的SIP芯片；系统板与测试载板通讯连接，用于循环读取多个SIP芯片的自检数据，并以循环周期为单位对自检数据进行打包上传，上位机与系统板通讯连接，并根据系统板上传的数据包内的自检数据对SIP芯片进行不良品进行检测，并对检测出的不良品进行调试。通过上述方式，本申请能够提高SIP芯片老化测试的效率。
基本信息
专利标题 ：
一种SIP芯片的老化测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921994065.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-18
授权号 ：
CN211528606U
授权日 ：
2020-09-18
发明人 ：
苏鹏曾泉刘建辉
申请人 ：
无锡天芯互联科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新吴区菱湖大道200号中国传感网国际创新园F区服务楼东楼(经营场所:无锡市新吴区长江东路18号)
代理机构 ：
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黎坚怡
优先权 ：
CN201921994065.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-11-24 ：
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01R 31/28
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳天芯互联科技有限公司
变更后 : 天芯互联科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市龙岗区坪地街道高桥社区环坪路3号101
变更后 : 518000 广东省深圳市龙岗区坪地街道高桥社区环坪路3号101
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳天芯互联科技有限公司
变更后 : 天芯互联科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市龙岗区坪地街道高桥社区环坪路3号101
变更后 : 518000 广东省深圳市龙岗区坪地街道高桥社区环坪路3号101
2020-11-24 ：
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01R 31/28
变更事项 : 专利权人
变更前 : 无锡天芯互联科技有限公司
变更后 : 深圳天芯互联科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 214028 江苏省无锡市新吴区菱湖大道200号中国传感网国际创新园F区服务楼东楼(经营场所 : 无锡市新吴区长江东路18号)
变更后 : 518000 广东省深圳市龙岗区坪地街道高桥社区环坪路3号101
变更事项 : 专利权人
变更前 : 无锡天芯互联科技有限公司
变更后 : 深圳天芯互联科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 214028 江苏省无锡市新吴区菱湖大道200号中国传感网国际创新园F区服务楼东楼(经营场所 : 无锡市新吴区长江东路18号)
变更后 : 518000 广东省深圳市龙岗区坪地街道高桥社区环坪路3号101
2020-09-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN211528606U.PDF
PDF下载
