用于芯片检测的老化测试装置
公开
摘要
本发明公开一种用于芯片检测的老化测试装置，包括：柜体和若干个活动安装于柜体内的抽屉，所述柜体内并位于腔体下方设置若干层沿竖直方向间隔排布的风道，所述风道贯通的前、后两端各自与柜体的前、后内壁连接，所述风道封闭的左、右两端各自与柜体的左、右内壁间隔设置，上下相邻的两层风道之间、位于最上层的风道与腔体之间均通过多根竖直设置的风管连通，位于抽屉上方的顶板或风道的下表面上开设有与对应的腔体或风道连通的若干个风孔。本发明既可以使柜体内各个位置的待测试芯片受热均衡，保证测试数据的一致性和可比较性，还可以提高每颗芯片受热的均匀性，进一步提高对芯片的测试精度。
基本信息
专利标题 ：
用于芯片检测的老化测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295956A
申请号 ：
CN202111483457.9
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张成姚燕杰王丽位贤龙
申请人 ：
江苏凯尔生物识别科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市漕湖街道春耀路21号
代理机构 ：
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
袁紫薇
优先权 ：
CN202111483457.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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