一种芯片的老化测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及电子技术领域，提供了一种芯片的老化测试装置，该芯片的老化测试装置包括第一电源模块、第二电源模块、信号激励模块及测试板；第一电源模块包括第一预设数目个第一电源单元，测试板上设置有晶振模块、第一预设数目个第一指示模块及第一预设数目个用于放置待测芯片的测试夹具，每个第一电源单元为与其连接的测试夹具中的待测芯片进行供电，每个第一指示模块基于与其连接的测试夹具的测试端输出的测试信号，输出用于标识待测芯片工作状态的工作状态指示信号。上述芯片的老化测试装置为每个待测芯片分别配置了独立的电源，即每个待测芯片由与其连接的第一电源单元独立供电，从而能够使得多个待测芯片之间的老化测试过程互不影响。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片的老化测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920602039.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-28
授权号 ：
CN210401575U
授权日 ：
2020-04-24
发明人 ：
林先海高峰许祥滨
申请人 ：
泰斗微电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市经济技术开发区科学城彩频路11号A401
代理机构 ：
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄志云
优先权 ：
CN201920602039.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-04-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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