一种用于芯片老化测试的芯片摆盘装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种用于芯片老化测试的芯片摆盘装置，其能解决现有芯片摆盘机构存在的效率低的问题。机架平台上安装有沿纵向沿伸的治具板定位承载机构，治具板定位承载机构的纵向前端设有治具板上板机构、纵向后端设有治具板下板机构，治具板上板机构的纵向前侧、治具板下板机构的纵向后侧分别对称地设置有可移动的前侧移载小车、后侧移载小车，移载小车上放置有用于层叠承载老化测试治具板的框架栏，框架栏的纵向前、后侧面均敞开。
基本信息
专利标题 ：
一种用于芯片老化测试的芯片摆盘装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021647591.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-10
授权号 ：
CN212821224U
授权日 ：
2021-03-30
发明人 ：
刘子康刘全保
申请人 ：
苏州欣华锐电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市迎春南路112号苏州国际科技大厦3幢302室
代理机构 ：
苏州国诚专利代理有限公司
代理人 ：
陶纯佳
优先权 ：
CN202021647591.9
主分类号 ：
B07C5/34
IPC分类号 ：
B07C5/34 B07C5/02 B07C5/36 G01R31/28 G01R31/01 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B07
将固体从固体中分离；分选
B07C
邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选
B07C5/34
根据其他特殊性质来分选
法律状态
2021-03-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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