本实用新型公开一种芯片老化用高效测试设备，包括测试载台、连接块和控制组件，所述测试载台上安装有一载板，此载板上开有若干供芯片嵌入的芯片槽，所述载板上具有若干与芯片连通的导线，此若干个导线在载板一端形成一电连接头，所述连接块上开有供电连接头插入的连接口，此连接块与控制组件电连接；所述测试载台两侧分别平行安装有一安装板，两个安装板的内侧侧壁上开有一滑动槽，所述载板安装在一基板上所述基板两侧嵌入此滑动槽内，所述测试载台四周设置有若干隔板，此若干个隔板围成一测试腔，所述测试腔一侧开有供基板插入的插口，所述基板端部具有与插口配合的挡板。本实用新型其能够实现大量芯片的非同步测试，且互不干扰，测试效率较高。