一种霍尔芯片老化测试装置

授权

摘要

本实用新型公开一种霍尔芯片老化测试装置，包括底座，底座上固定有一个或多个老化测试体；老化测试体包括同轴设置且可拆卸的第一线圈架和第二线圈架，第一线圈架上缠绕有第一线圈，第二线圈架中缠绕有第二线圈，第一线圈与第二线圈的引线焊接成为一条线缠绕的线圈，第一线圈架和第二线圈架之间放置有PCB引脚放大板；每个老化测试体的线圈均与一根集成总线连接，每个老化测试体的PCB引脚放大板上的放大端均通过另一根集成总线引出。本实用新型解决了现有技术中存在的老化测试难以批量实现的问题。

基本信息

专利标题：

一种霍尔芯片老化测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021183049.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-23

授权号：

CN212693958U

授权日：

2021-03-12

发明人：

张文伟宋瑞潮

申请人：

西安中科阿尔法电子科技有限公司

申请人地址：

陕西省西安市长安区上林苑一路15号

代理机构：

西安弘理专利事务所

代理人：

燕肇琪

优先权：

CN202021183049.2

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R33/07 G01R35/00