激光芯片测试平台

专利权质押合同登记的生效、变更及注销

摘要

本实用新型涉及测试设备技术领域，特别涉及激光芯片测试平台，测试收光装置、XY轴芯片载料台、可调节探针台、图像采集装置均通过螺栓紧固于测试设备上，并且均连接于测试设备的控制系统，测试收光装置包括光功率探测器，光功率探测器连接于测试设备的光功率测试系统，用于测试激光芯片的光功率，测试收光装置包括耦合透镜和多模光纤，多模光纤的一端连接于耦合透镜，另一端连接于光谱分析仪，用于激光芯片的光谱测试。与现有技术相比，本实用新型的激光芯片测试平台采用耦合透镜将激光芯片与多模光纤进行耦合，结构设计保证精度，无需进行精密的光学对位，降低成本的同时极大的缩短了测试时间，提供测试效率。

基本信息

专利标题：

激光芯片测试平台

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020887082.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-22

授权号：

CN211978114U

授权日：

2020-11-20

发明人：

李伟罗骏

申请人：

镭神技术（深圳）有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区新安街道67区留仙一路甲岸科技工业园1号厂房1楼B区

代理机构：

深圳市中科创为专利代理有限公司

代理人：

彭涛

优先权：

CN202020887082.7

主分类号：

G01J1/42

IPC分类号：

G01J1/42 G01J3/28 G01J3/02 G05D23/24