芯片测试平台
授权
摘要
本实用新型实施例提供一种芯片测试平台，包括：调节机构，所述调节机构包括：旋转马达和方向调节滑台，所述方向调节滑台安装在所述旋转马达上；两个相对设置的测试机构，一个所述测试机构安装在所述旋转马达上，另一个所述测试机构安装在所述方向调节滑台上；两个制冷机构，两个所述制冷机构分别安装在两个所述测试机构上。本实用新型实施例提供的芯片测试平台，通过设置方向调节滑台，克服了人工安装芯片测试平台时，两个测试机构之间存在位置偏差的问题，实现了对测试机构的精准微调，能够有效地将两个测试机构通过手动微调调节至一个圆周线上，在保证芯片测试的准确性的同时，也为芯片测试平台拆除后再次安装提供了借鉴。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022187364.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-29
授权号 ：
CN213212141U
授权日 ：
2021-05-14
发明人 ：
徐敏敏蒋耀郭庆锐苏文毅熊冠华
申请人 ：
武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖开发区高新大道999号
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
吕伟盼
优先权 ：
CN202022187364.9
主分类号 ：
H01L21/683
IPC分类号 ：
H01L21/683 H01L21/66
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21/683
用于支承或夹紧的
法律状态
2021-05-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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