本实用新型属于芯片测试技术领域，尤其为一种芯片测试平台的保护装置，包括测试平台本体、连接板和保护盖，所述测试平台本体顶部固定连接有两个对称分布的滑轨，所述滑轨上开设有滑槽，所述测试平台本体顶部固定连接有芯片夹具，所述连接板位于所述测试平台本体一端顶部，所述连接板一侧底部固定连接有强力磁铁；首先将连接板与测试平台本体进行连接，然后再把保护盖与测试平台上的滑轨进行连接，推动保护盖在滑轨上滑动，使强力磁铁吸附住连接金属块，从而对保护盖进行固定，这样在测试平台本体闲置的时候，通过保护盖会对测试平台本体上的芯片夹具起到一个保护的作用，避免外部的灰尘落到芯片夹具上影响其灵敏度。