本实用新型公开一种激光器芯片用测试装置，包括测试载台、连接块和控制组件，所述测试载台上安装有一载板，此载板上开有若干供芯片嵌入的芯片槽，所述载板上具有若干与芯片连通的导线，此若干个导线在载板一端形成一电连接头，所述连接块上开有供电连接头插入的连接口，此连接块与控制组件电连接；所述载板正下方设置有一冷却盒，此冷却盒上开有进水口和出水口，所述冷却盒内设置有与进水口、出水口贯通的冷却腔，所述进水口和出水口均通过水管与一冷却水循环箱连通，所述载板下表面还设置有一导热板，此导热板用于与冷却盒上表面接触连接。本实用新型其不仅能够进行高功率激光器和芯片的批量化测试，还能有效控制温度，提高测试精度。