激光器芯片测试一体设备
授权
摘要
本实用新型公开一种激光器芯片测试一体设备，包括机架、安装于机架的基板上的测试座、驱动机构和测试探头，所述驱动机构进一步包括Z轴组件、与Z轴组件活动连接的Y轴组件、X轴电机和两个平行设置的X轴导轨，所述Z轴组件上安装有测试探头，用于驱动测试探头上下移动，此Z轴组件安装于Y轴组件上，所述Y轴组件的两端分别设置有一滑块，两个所述滑块分别与两个X轴导轨滑动连接，所述测试座进一步包括测试基板、加热片和底板，所述底板位于测试基板正下方，所述加热片设置于测试基板与底板之间，所述加热片的中央开设有一通孔。本实用新型提高了探头对器件测试的精度，保证测试数据的一致性与稳定性，提高测试效率。
基本信息
专利标题 ：
激光器芯片测试一体设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021130245.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-17
授权号 ：
CN213275842U
授权日 ：
2021-05-25
发明人 ：
徐鹏嵩郭孝明朱晶王凯旋
申请人 ：
苏州联讯仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢
代理机构 ：
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 ：
王健
优先权 ：
CN202021130245.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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