本申请提供一种激光器芯片测试装置和激光器芯片测试方法，测试装置包括：位移台，位移台上设置有载物台，载物台用于承载激光器芯片；设置于位移台一侧的加电装置，用于对激光器芯片加电以使激光器芯片发光；图像采集装置以及与图像采集装置通信连接的处理装置，处理装置还与位移台通信连接；光功率探测器，用于在激光器芯片处于目标位置时，对激光器芯片产生的激光进行检测。由于处理装置通过图像采集装置采集到的激光器芯片的位置信息来控制位移台移动，使得激光器芯片可以从当前位置移动到目标位置来进行测试，可以保证同一批次的激光器芯片在进行测试时，不同的个体均在同一目标位置进行测试，从而保证激光器芯片的测试环境的稳定。