芯片测试装置
授权
摘要
本实用新型提供一种芯片测试装置。本实用新型提供的芯片测试装置，包括测试电路板和芯片固定机构，芯片固定机构通过在限位板上设置开口容纳待测芯片，并通过设置压紧组件将待测芯片压紧在测试电路板上，使得待测芯片的引脚与测试电路板上的信号顶针电性连接，信号顶针还与测试电路电性连接，如此，待测芯片、信号顶针以及测试电路形成测试回路，实现对待测芯片的测试；并且，测试电路板上信号顶针电性连接待测芯片和测试电路，使得待测芯片和测试电路的距离相对较短，使得待测芯片的位置更接近于实际安装位置，更加真实的模拟芯片的正常工作状态，有利于提高测试的稳定性，进而提高测试的准确度。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020941318.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-28
授权号 ：
CN212781094U
授权日 ：
2021-03-23
发明人 ：
邓良俊
申请人 ：
广州视源电子科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市黄埔区云埔四路6号
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
张娜
优先权 ：
CN202020941318.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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