芯片测试引脚转接机构与芯片测试装置
授权
摘要

本实用新型提供了一种芯片测试引脚转接机构与芯片测试装置。该转接机构包括转接主体以及压紧单元,转接主体用于固定到测试电路板上,压紧单元设置在转接主体上,用于将芯片引脚压到测试电路板的连接点上。通过压紧单元能够将芯片引脚压到测试电路板的连接点上,其不需要再对芯片引脚进行焊接,就能够实现芯片引脚与连接点之间的电性连接,快速且方便地完成芯片测试。在测试完成后,无需对芯片或者测试电路板进行破坏,就可以实现芯片的拆卸、换装。本实用新型的使用能够保护芯片以及测试电路板,彻底解决了传统测试方式中所存在的会造成设备损坏的问题。

基本信息
专利标题 :
芯片测试引脚转接机构与芯片测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020184858.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-02-19
授权号 :
CN212031537U
授权日 :
2020-11-27
发明人 :
刘宇航敖利波史波曹俊
申请人 :
珠海格力电器股份有限公司;珠海零边界集成电路有限公司
申请人地址 :
广东省珠海市前山金鸡西路
代理机构 :
北京聿宏知识产权代理有限公司
代理人 :
吴大建
优先权 :
CN202020184858.9
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-11-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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