芯片测试机构及测试机
授权
摘要
本实用新型涉及一种芯片测试机构及测试机，芯片测试机构包括检测台、承载板与压接组件，其中：承载板固定于检测台上，承载板上开设有多个用于容纳待检芯片的容置槽；压接组件在竖直方向与水平方向均可移动地设置于检测台上，压接组件具有多个与容置槽相对应的压头；本实用新型提供的芯片测试机构，当压接组件朝向竖直方向移动时，压头可对待检芯片进行压接处理，当压接组件朝向水平方向移动时，压头与容置槽之间具有较大的操作空间，方便待检芯片的上下料操作；并且将承载板与压接组件均设置于检测台上，体积较小，方便用户的携带测量，可显著提高待检芯片的测试效率。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试机构及测试机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123040836.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-06
授权号 ：
CN216595407U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
张磊陈波
申请人 ：
苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号
代理机构 ：
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
高洁
优先权 ：
CN202123040836.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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