本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其是指一种芯片测试机构，包括输送带、上料组件和测试机，所述输送带两侧设置有滑动槽，所述上料组件内设置有多个测试板，所述测试机包括测试台、测试板安装槽和测试组件，所述测试组件安装于所述测试台上，所述测试板安装槽设置于所述测试台上部，所述测试板设置有多个芯片安装孔，所述测试板安装槽底部设置有多个测试器件，本实用新型在检测时，将检测芯片插于测试板内，再将带有测试板放置于上料组件内进行上料，通过输送带将测试板送入至测试板安装内，之后通过测试组件和测试台的配合对测试板内的芯片进行检测，本实用新型可自动上料，且一次性可检测多个芯片，有效的提高了芯片的检测效率。