本实用新型涉及芯片加电装置技术领域，公开了一种探针、加电机构及芯片自动测试台。探针包括加电段和固定段，加电段的一端可拆卸地安装于固定段的一端，加电段远离固定段的一端用以与芯片相接触，固定段远离加电段的一端用以固定于探针支座上且与电源装置电性连接。本实用新型实施例提供的探针为分体式结构，探针通过固定段固定于探针支座上，当探针的加电段出现磨损时，由于加电段和固定段之间是可拆卸的，不需要将探针整体从探针支座上拆下进行更换，只需更换加电段即可，故该分体式结构的探针更换较为方便。