一种芯片测试机用的探针机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试机用的探针机构，包括第一安装底座，第一安装底座一侧表面等间距固定连接有第二安装底座，第二安装底座内部设置有内腔，内腔底端固定连接有金属块,内腔内部设置有探针，第二安装底座上端固定连接有连接圈，连接圈表面设置有螺纹，连接圈上端设置有螺纹套，螺纹套与连接圈尺寸相适配且与连接圈螺纹连接；探针下端两侧开设有凹槽,凹槽内部两侧均开设有滑槽,滑槽内部滑动连接有滑块，两侧滑块之间固定连接有垫片，垫片一侧固定连接有挡块，垫片一侧与凹槽的一侧之间固定连接有弹簧。本实用新型结构设置合理，能够方便地进行芯片检测时探针的更换，对于探针更换更加方便，能够方便地对不同型号的电路板进行检测。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试机用的探针机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021018959.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-05
授权号 ：
CN212845750U
授权日 ：
2021-03-30
发明人 ：
卞杰锋
申请人 ：
苏州全威电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区星海街5号星海5号创意园118室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021018959.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G01R1/067
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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