一种可变探针芯片测试底座
授权
摘要

本实用新型属于测试底座技术领域,尤其是一种可变探针芯片测试底座,针对测试时芯片固定起来比较麻烦,大大的降低了测试效率的问题,现提出如下方案,其包括座体,所述座体的顶部开设有放置槽,座体的顶部固定安装有挡板,座体的顶部活动安装有安装板,安装板的底部固定安装有支撑板,安装板的底部固定安装有压固装置,座体上转动安装有圆板,圆板上固定安装有把手,把手上固定安装有连接杆,连接杆的一端与安装板转动连接,圆板上固定安装有卡杆,座体上滑动安装有限制装置,座体的顶部活动安装有两个活动杆的底端。本实用新型使用方便,并且针对不同的芯片均可以压固,有效的提高了测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种可变探针芯片测试底座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122413629.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-08
授权号 :
CN216209293U
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
宋国建
申请人 :
苏州格锐芬精密科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市相城区太平街道富升路3号1#-1F
代理机构 :
苏州国卓知识产权代理有限公司
代理人 :
夏祖祥
优先权 :
CN202122413629.7
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R1/067  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-04-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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