本实用新型涉及芯片探针技术领域，且公开了一种多芯片测试探针卡，解决了目前市场上的多芯片测试探针卡使用时受到环境中的灰尘与颗粒物的影响会导致精准度下降，同时在工作时受到震动时或人为的碰撞会导致内部的电路产生损耗，影响了检测的精确度的问题，其包括芯片检测机，芯片检测机的底部固定连接有支撑垫，芯片检测机的顶部设置有活动摇臂，活动摇臂的一端活动连接有探针卡检测器，通过将该多芯片测试探针卡工作时周围环境中的灰尘颗粒进行吸入处理，防止在对多芯片测试探针卡的检测时灰尘颗粒覆盖在芯片的表面降低芯片检测的精准度，将震动抵消提高了该芯片测试的精确度，延长了该装置的使用寿命，提高了实用性。