一种芯片测试探针装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试探针装置，包括底座、步进电机和导向杆，所述底座上端一侧通过螺栓连接有所述步进电机，所述步进电机的传动输出端通过键连接有丝杆，所述丝杆一侧设置有与所述底座插接的所述导向杆，所述导向杆上滑动连接有升降板。有益效果在于：本实用新型通过设置步进电机、丝杆、导向杆和升降板，使探针电路板可快速进行升降，进而使测试探针能够快速与芯片接触，提高测试效率，通过设置探针电路板和固定块，使装置一次可通过多根测试探针对芯片进行多点测试，测试效率更高，十分实用。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试探针装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921847126.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-30
授权号 ：
CN211905577U
授权日 ：
2020-11-10
发明人 ：
张振峰杨国良邱德明
申请人 ：
武汉盛为芯科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区大学园路20号武汉普天科技园2#大楼一层103-2室
代理机构 ：
武汉红观专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李季
优先权 ：
CN201921847126.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/073 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-11-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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