本实用新型公开了一种半导体芯片测试探针台，包括工作台，所述工作台的上端固定连接有夹紧机构，所述工作台的上端开设有凹槽，所述工作台的下端固定连接有多根支撑柱，多根所述支撑柱之间固定连接有同一个驱动机构，所述驱动机构的上端贯穿于工作台的下端设置并延伸至凹槽内，所述驱动机构的上端与夹紧机构的下端相接触，所述夹紧机构包括固定设置于工作台上端的竖杆，所述竖杆的上端转动连接有横杆，所述横杆的下端转动连接有压杆，所述压杆上套设有限位杆。本实用新型通过驱动机构与夹紧机构的设置来实现对半导体芯片的固定作用以及位置进行调整，有利于减少半导体芯片测试的误差。