本实用新型公开了一种半导体芯片测试用探针卡，包括印刷电路板，设在印刷电路板上的探针基座，以及设在探针基座上的探针，所述探针上方设有圆弧形的透明保护盖，圆弧形的透明保护盖可以避免灰尘堆积，所述透明保护盖两端分别固定在第一缓冲机构和第二缓冲机构上，所述第一缓冲机构的下端通过第一固定座固定在印刷电路板上，所述第二缓冲机构的下端设有第二固定座，所述第二固定座底部设有卡块，所述卡块卡接在弹性卡座内，所述弹性卡座和第一固定座通过粘合材料固定在印刷电路板上。本实用新型能够对探针进行保护，防止探针脱落损坏，颗粒粉尘对探针造成污染，保证探针的测试精确度和可靠性。