本实用新型提供一种用于半导体材料测试的四探针测试仪。所述用于半导体材料测试的四探针测试仪包括：检测仪放置台，所述放置台固定安装在检测仪的顶部；检测台，所述检测台转动安装在放置台的顶部；升降器，所述升降器固定安装爱放置台上；探测仪，所述探测仪固定安装在升降器上；第一转动槽，所述第一转动槽开设在放置台的一侧；内螺纹管，所述内螺纹管转动安装在第一转动槽内，所述内螺纹管的一端延伸至第一转动槽外；调节轮，所述调节轮固定安装在内螺纹管的一端；滑槽，所述滑槽开设在第一转动槽的一侧内壁上。本实用新型提供的用于半导体材料测试的四探针测试仪具有使用方便、便于检测体移动至探针底部的优点。