本实用新型公开了一种半导体器件检测用四探针测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体上端中部固定连接有等距分布的减震弹簧，所述测试仪本体左右两侧上端均固定连接有卡块，所述测试仪本体上端活动连接有测试架底板，所述测试架底板上端固定连接有左右对称设置的垂直侧板，所述垂直侧板和另一垂直侧板间固定连接有顶板，所述顶板上开设有螺纹孔，所述螺纹孔内螺纹连接有丝杆，所述丝杆下端转动连接有固定座，所述固定座下端固定连接有安装座。该半导体器件检测用四探针测试仪，提高装置的稳定性，缩小装置占地面积，进一步提高测试仪本体与测试架底板间连接的牢固性，提高测试架底板的减震效果，有效提高安装座上下移动时的平稳性。