一种真空高低温半导体器件测试探针台
授权
摘要

本实用新型公开了一种真空高低温半导体器件测试探针台,包括操作台,操作台上设有真空玻璃罩,真空玻璃罩的侧壁上开设有圆孔,圆孔的位置处密封连接有隔温手套;真空玻璃罩的顶部设有安装顶板,安装顶板的中间部位设有放入孔,放入孔内活动连接有密封盖。安装顶板的内壁设有电热管和探针杆,电热管用于对真空玻璃罩升温,探针杆上设有用于测试半导体的探针;安装顶板的上表面还设有真空阀和连接管,连接管用于连接制冷设备,操作台上还设有固定柱,固定柱内滑动连接有调节柱,调节柱上转动连接有放置板,放置板用于放置半导体。本实用新型可有效调整半导体位于测试台上的位置以及便于手持探针,从而保障测试人员的身体健康及利于测试人员操作。

基本信息
专利标题 :
一种真空高低温半导体器件测试探针台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122432117.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-10
授权号 :
CN216310079U
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
李长岭李建军孙建新刘少坡邱松杰马培良黄伟新
申请人 :
河南中烟工业有限责任公司
申请人地址 :
河南省郑州市郑东新区榆林南路16号
代理机构 :
北京维澳专利代理有限公司
代理人 :
隋勤
优先权 :
CN202122432117.5
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2022-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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