一种真空高低温半导体器件测试探针台
授权
摘要

本实用新型公开了一种真空高低温半导体器件测试探针台,包括支撑台体和四个支撑腿,四个所述支撑腿分别通过螺栓安装在支撑台体的底部四角外壁,所述支撑台体的顶部四角外壁均固定安装有支撑杆,且四个支撑杆的顶部外壁固定安装有同一个支撑顶板,所述支撑顶板底部的两端外壁均固定安装有第一支撑板,且两个第一支撑板的底部外壁均开设有第一凹槽,两个第一凹槽的内壁固定安装有电动导轨,两个电动导轨的底部外壁均滑动连接有电动滑块。本实用新型通过设置有第二支撑板,并在第二支撑板上设置有照明灯和摄像头,方便通过照明灯对支撑壳体的内部环境进行照明,通过摄像头对测试效果进行拍摄记录,提高了检测的准确性。

基本信息
专利标题 :
一种真空高低温半导体器件测试探针台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020744010.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-08
授权号 :
CN212410644U
授权日 :
2021-01-26
发明人 :
李喜荣
申请人 :
杭州源峰检测技术有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市萧山区新街镇山末址村1098号21栋
代理机构 :
合肥市科融知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
晋圣智
优先权 :
CN202020744010.7
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/26  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-01-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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