本实用新型公开了半导体芯片测试用弹簧探针，涉及弹簧探针技术领域。本实用新型包括针管和针轴，针管内部设置有弹簧槽，弹簧槽内表面连接有缓冲弹簧，缓冲弹簧一端与针轴一端固定连接，针轴与针管滑动配合，针轴一端固定连接有针头，针轴一端开设有安装槽，安装槽为球形槽结构，安装槽内部安装有滚珠。本实用新型通过设置滚珠、插柱、插槽、卡槽、滑槽、记忆弹簧和卡块，提升了针轴与芯片接触时的滑动性，避免了针头磨损芯片，避免芯片受损，有效地提升了芯片测试的稳定性，并且提升了针轴的装卸便利性，便于后期维护。