一种可更换测试弹簧的芯片测试座，它属于电子测试技术领域，特别是集成电路芯片测试技术领域，它包括一个设置在测试电路板上的框体，在框体中排列有数个测试孔，在部分测试通孔中设置有测试弹簧；其特征在于在所述的测试孔中设置一个弹簧支撑针，弹簧支撑针的下端与测试电路板连接，上端支撑测试弹簧。所述的弹簧支撑针为火炬形状，包括支撑柄和炬头，测试弹簧套在所述的炬头上；在针火炬形状弹簧支撑的支撑柄与炬头之间设置一个卡台，卡台卡在框体的底部。本实用新型用弹簧支撑针作为连接部件，实现了弹簧损坏时的单独更换，提高了测试效率，减少了测试成本，同时特别保证了测试准确性以及稳定性。