本实用新型提供了一种用于芯片测试中的探针更换结构，属于机械技术领域。一种用于芯片测试中的探针更换结构，包括机架，所述机架上固定有工作台，所述工作台上具有用于固定芯片的固定结构，还包括固定架、第一推杆电机、第二推杆电机、移动板，固定架固定在机架上，移动板水平滑动设置在固定架上，第一推杆电机固定在固定架上，第一推杆电机的推杆与移动板固定相连，移动板上开设有若干孔组，每个孔组包括若干通孔，通孔内固定有导向筒，导向筒内滑动设置有升降块，升降块通过拉簧与导向筒固定相连，升降块上可拆卸设置有第一探针，第二推杆电机固定在固定架上。本实用新型具有在使用时不需要更换探针，可连续使用的优点。