本实用新型公开了一种用于高精密芯片测试的探针台，涉及高精密芯片测试技术领域。本实用新型包括底座，底座上表面设有限位杆、升降丝杆、气缸和支撑架，限位杆表面设有升降台，升降丝杆穿透升降台并与升降台螺纹连接，升降丝杆上表面设有电机，电机输出端同轴连接有连杆，连杆与升降丝杆同轴连接。本实用新型通过气缸，在使用时，启动气缸，从而升降工作台，随后将芯片通过固定槽和支撑块固定，随后启动电机随后带动升降丝杆旋转，从而带动升降台升降，随后移动滑动块将探针移动至需要测试的位置，从而对芯片进行测试，当需要对其他位置进行测试时，旋转工作台，从而对其他位置进行测试，较为便捷。