芯片测试板
授权
摘要
本实用新型涉及半导体芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片测试板，旨在解决现有技术中的测量效率低的缺陷，其技术要点在于包括承接板及控制模块，所述承接板上设置有选址模块，所述选址模块与所述控制模块对应设置，所述承接板上还还设有插槽及若干引线，所述引线用于所述插槽与地线连接设置。通过控制装置对选址装置进行选择，并通过选址模块分别读取插槽信号，使得测试过程中自动化程度高，提高了测试过程中的测试效率。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试板
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920827115.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-03
授权号 ：
CN210604871U
授权日 ：
2020-05-22
发明人 ：
夏惠
申请人 ：
张家港恩达通讯科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市张家港市凤凰镇凤凰科创园E栋，恩达通讯
代理机构 ：
北京三聚阳光知识产权代理有限公司
代理人 ：
张韬
优先权 ：
CN201920827115.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-05-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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