高低温探针台测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种高低温探针台测试装置,高低温探针台测试装置包括:底座、冷热台组件和多个探针组件。底座限定出盛放腔;底座设置有循环冷媒接口,冷热台组件设置于底座且对被测元件进行升温及降温,冷热台位于盛放腔内;多个探针组件设置于盛放腔。由此,通过底座、冷热台组件和多个探针组件配合,冷热台组件能够对被测元件升温和降温,可以为被测元件提供一个变化的热场,并且,多个探针组件可同时对多个被测元件的电学、电化学等参数进行检测,可以提升高低温探针台测试装置的检测效率,同时,高低温探针台测试装置可以与多种测试仪器连用,满足材料测试的不同测试条件,具有节能、多功能、微型化、快速升降温等优点。

基本信息
专利标题 :
高低温探针台测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921061237.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-08
授权号 :
CN212932475U
授权日 :
2021-04-09
发明人 :
肖钊肖石汪金文
申请人 :
上海同果智能科技有限公司;果果仪器科技(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区安亭镇墨玉南路888号2201室J933
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄德海
优先权 :
CN201921061237.5
主分类号 :
G01N27/00
IPC分类号 :
G01N27/00  G01N27/26  G01K13/00  G01R31/00  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/00
用电、电化学或磁的方法测试或分析材料
法律状态
2021-04-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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