测试探针

授权

摘要

本实用新型公开了一种测试探针，包括缓冲部及与缓冲部呈一体连接的测试部，测试探针为片状结构，测试部为片状的条形结构，测试部具有设于底部的护臂及触点，护臂与触点沿左右方向相互间隔开，护臂向下超出于触点。本实用新型的测试探针借助整体为片状结构，在工艺上可将测试探针的厚度做薄，故而在产品测试时，在接触部之间的间隙很小的情况下，探针也能到达对应的触点位置，从而适用于产品接触部之间的间隙小的场合；另外，本实用新型在使用时，护臂卡住产品的外侧，触点与产品的接触部接触，缓冲部在探针受压时使得压力得以缓冲，防止损坏探针。借助护臂，有利于在测试过程中防止各种因素的偏摆，从而提高测试的稳定性以及测试的可靠性。

基本信息

专利标题：

测试探针

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021909517.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-03

授权号：

CN213750022U

授权日：

2021-07-20

发明人：

蔡宗明曾翔蔡明峻李尧

申请人：

东莞中探探针有限公司

申请人地址：

广东省东莞市虎门镇虎门南面路10号

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司

代理人：

张艳美

优先权：

CN202021909517.X

主分类号：

G01R1/067

IPC分类号：

G01R1/067