转子测试探针结构
授权
摘要

本实用新型技术方案公开了一种转子测试探针结构,包括用于检测转子主体的检测模组主体,检测模组主体包括安装座,及设置于安装座内圈的通孔,安装座外圈设有与各通孔对应的检测探针模组,检测探针模组内的各探针包括内部具有复位件的连接杆,及设置于连接杆一端用于焊接测试线的针套塞,及另一端用于接触转子主体的导电铜片的接触点尾塞,针套塞另一端通过传动杆连接有针头套。本实用新型技术方案解决了现有技术中的测试探针结构使用寿命较短的问题。

基本信息
专利标题 :
转子测试探针结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122705344.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-05
授权号 :
CN216350855U
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
郭恒
申请人 :
深圳市先航电子技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道宝安大道洪盛工业园五号厂房401号
代理机构 :
深圳市鼎泰正和知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
周小涛
优先权 :
CN202122705344.0
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2022-04-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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