本实用新型关于一种测试结构，其包括一基座；一测试机构，其包括一可活动地设于该基座的探针座及一设于该探针座的探针；其中，调整该探针座可带动该探针于一第一位置及一第二位置之间移动，该第一位置及该第二位置的间距为2.00mm。本实用新型另关于一种探针装置，包括复数上述的测试结构，其中于该第二位置时，其中一该测试机构的探针与相邻的至少一该测试机构的探针错位设置。本实用新型提供的测试结构及包括复数该测试结构的探针装置，可调整一探针座相对该基座的位置，以利于拆装一探针。