包括可去除测试点部分的电路板和测试系统
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及包括可去除测试点部分的电路板和测试系统。本实用新型的电路板包括至少一个功能部分和附装至所述至少一个功能部分的至少一个可去除测试点部分,所述可去除的测试点部分包括至少一个测试点,所述测试点电连接至位于所述功能部分上的至少一个测试装置。所述测试点允许被接触以验证所述功能部分是否正常工作或者安装的电气元件是否电连接至所述电路板。本实用新型还提供可配置的测试电路板,其可被调整以适应不同尺寸和电气测量要求的电路板。本实用新型还提供了用于测试这些电路板系统。

基本信息
专利标题 :
包括可去除测试点部分的电路板和测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720009522.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-10-09
授权号 :
CN201229391Y
授权日 :
2009-04-29
发明人 :
迈克尔·罗森布拉特小W·布赖森·加德纳阿米尔·塞尔希托尼·阿吉哈泽里安
申请人 :
苹果公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚
代理机构 :
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 :
朱德强
优先权 :
CN200720009522.3
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/067  G01R1/073  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2017-11-24 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20071009
授权公告日 : 20090429
2009-04-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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