一种用于PAD测试点的测试电路
实质审查的生效
摘要
本发明属于模拟集成电路技术领域，具体的说是涉及一种用于PAD测试点的测试电路。本发明通过电路设计并结合layout上一极小pad，同时配合电路内部逻辑信号，可以实现预修调的作用，通过该信号可以获得真实的最小修调步距，即一位lsb，从而可以在极大简化系统测试流程的同时提高测试效率和精度。本发明可以降低电路结构难度的同时提高测试效率，简化测试流程，具有极强的实用性。
基本信息
专利标题 ：
一种用于PAD测试点的测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114280464A
申请号 ：
CN202210002719.3
公开（公告）日 ：
2022-04-05
申请日 ：
2022-01-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王佳煜李芝友
申请人 ：
上海南芯半导体科技股份有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区晨晖路1000号214室
代理机构 ：
成都点睛专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
孙一峰
优先权 ：
CN202210002719.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220104
申请日 : 20220104
2022-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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