一种飞针测试点校准装置及方法
公开
摘要
本申请公开了一种飞针测试点校准装置及方法，该装置包括：PCB光板、飞针测试设备、蓝印纸、第一飞针测试点图纸、第二飞针测试点图纸和固定夹，PCB光板上从下往上依次平铺有第一飞针测试点图纸、蓝印纸、第二飞针测试点图纸。该方法包括：对所有待测的飞针测试点进行编号，获取测试点编号；根据测试点编号、飞针测试点的坐标以及飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标，生成第一测试点图纸和第二测试点图纸；搭建测试环境；对所有待测的飞针测试点进行飞针测试，获取测试点扎痕位置；根据实际下针位置和目标下针位置的偏差，以及测试点编号，对飞针测试点的下针位置进行校准。通过本申请，能够有效提高飞针测试点校准的精确度。
基本信息
专利标题 ：
一种飞针测试点校准装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609568A
申请号 ：
CN202210242190.2
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李强
申请人 ：
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 ：
济南诚智商标专利事务所有限公司
代理人 ：
李修杰
优先权 ：
CN202210242190.2
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00 G01R31/28 G01R1/067
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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