本发明公开了一种飞针测试用高精度下针补偿方法、装置及存储介质，方法包括：获取垂直状态下的探针针尖与校刀台上的预设点接触时探针的第一伸长量；获取旋转后探针针尖与校刀台上的预设点接触时探针的第二伸长量；获取旋转后探针针尖与校刀台上的预设点接触时探针的第三伸长量；建立探针的旋转角度与伸长量的关系及探针的旋转角度与偏移量的关系。根据建立的探针下针模型，指定探针旋转角度，确定探针下针的位置及补偿参数，进行下针。根据本发明实施方式的飞针测试用高精度下针补偿方法，能够进行实时自动识别、自动标定、Z轴方向校针及探针旋转下针标定；通过对探针进行旋转、移动实现多角度下针测试，有效避免在测试点之间间距较小或者其他情况下导致飞针测试模块在测试时产生干涉，测试准确度高，精度高。