PCB的飞针测试方法、测试装置、测试设备及存储介质

授权

摘要

本发明属于PCB测试技术领域，涉及PCB的飞针测试方法、测试装置、测试设备及存储介质。所述PCB的飞针测试方法包括：计算所述第一相机到对应测试点的机械坐标(c1，d1)；计算所述第二相机到对应测试点的机械坐标(c2，d2)；所述第一相机移动至所述机械坐标(c1，d1)，获取所述机械坐标(c1，d1)处测试点的轮廓图像；计算所述第一探针到该轮廓图像的中心的机械坐标(g1，h1)；所述第二相机移动至所述机械坐标(c2，d2)，获取所述机械坐标(c2，d2)处测试点的轮廓图像；计算所述第二探针到该轮廓图像的中心的机械坐标(g2，h2)。本发明有利于提高飞针测试PCB开路点的准确度。

基本信息

专利标题：

PCB的飞针测试方法、测试装置、测试设备及存储介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110736910A

申请号：

CN201810791568.8

公开（公告）日：

2020-01-31

申请日：

2018-07-18

授权号：

CN110736910B

授权日：

2022-04-19

发明人：

张恂欧阳云轩谢强王星翟学涛杨朝辉高云峰

申请人：

大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市南山区高新科技园北区新西路9号

代理机构：

深圳市世联合知识产权代理有限公司

代理人：

汪琳琳

优先权：

CN201810791568.8

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01B11/00

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/28

•电路的测试，例如用信号故障寻测器

法律状态

2022-04-19 ：

授权

2021-01-26 ：

著录事项变更

IPC(主分类) : G01R 31/28
变更事项 : 申请人
变更前 : 深圳市大族数控科技有限公司
变更后 : 深圳市大族数控科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市宝安区沙井街道新沙路安托山高科技工业园3#厂房五层、14#厂房一二层、17#厂房
变更后 : 518000 广东省深圳市宝安区沙井街道新沙路安托山高科技工业园3#厂房五层、14#厂房一二层、17#厂房

2020-07-10 ：

专利申请权、专利权的转移

专利申请权的转移IPC(主分类) : G01R 31/28
登记生效日 : 20200623
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 大族激光科技产业集团股份有限公司
变更后权利人 : 深圳市大族数控科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 518000 广东省深圳市南山区高新科技园北区新西路9号
变更后权利人 : 518000 广东省深圳市宝安区沙井街道新沙路安托山高科技工业园3#厂房五层、14#厂房一二层、17#厂房
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 深圳市大族数控科技有限公司

2020-02-25 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20180718

2020-01-31 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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